Microscopie électronique à balayage - HITACHI TM4000 Plus II

Description

Le Microscopie électronique à balayage (MEB) facilite les observations et analyses de haute précision, puisqu'il offre un grossissement allant jusqu'à 3000 fois. Il est équipé d'une source d'électrons utilisant un filament de tungstène et peut fonctionner sous des tensions de 5, 10 ou 15 kV, avec les modes BSE, SE ou Mix (BSE+SE). Les dimensions maximales des échantillons pouvant être observés sont de 80 mm de diamètre et 50 mm de hauteur.