Fabrication additive

Imprimer la page

MEB de table Hitachi TM4000Plus

Description

Microscope Électronique à Balayage (MEB) Hitachi TM4000Plus :  

  • MEB avec une pointe en tungstène couplé à un spectromètre à dispersion d’énergie (EDS).

  • fonctionne en mode électrons rétrodiffusés et secondaires.

  • L’instrument permet d’effectuer une caractérisation structurale et morphologique à l’échelle micrométrique en vide dégradé.

Specifications

  • Le nouveau dispositif de visualisation optique de l’échantillon permet de facilement localiser les zones d’intérêt et de naviguer automatiquement sur des portes échantillons multiples.

  • Le mode « pression contrôlée » permet l’observation directe de tous types d’échantillons, conducteurs ou isolants, secs gras ou humides.

  • Un détecteur d’électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu’à des grandissements de x250.000 (x100.000 en format polaroid). Les informations d’extrême surface sont révélées par l’utilisation d’une faible tension d’accélération combinée à un excellent rapport signal sur bruit.

  • Le TM4000 Plus possède également un détecteur d’électrons secondaires (UVD), utilisable en mode  « pression variable ».